CONSIGNO
Metrologia 3D
em uma nova
dimensão

Medição de superficies inteiras atraves
de stitching lateral e rotacional

Avaliações através das
normas DIN/EN/ISO

Resultados rápidos e confiáveis
com o microscópio confocal
CONSIGNO

Medições
integrados e
robotizados

MICROSCÓPIO CONFOCAL

O microscópio confocal CONSIGNO é um sistema de medição de superfícies 3D equipado com um disco giratório de microlentes.

O princípio é combinado com uma construção inovadora e robusta. Esta construção garante resultados com alta precisão e confiança em todas as atividades de medição.

O sensor de medição se destaca pelo tamanho minúsculo com comprimento inferior a 25 cm e peso abaixo de 2 kg. Uma faixa de medição de vários milímetros na direção z é realizada através de uma nova mecânica de escanear completamente integrada.

Tudo isso viabiliza o uso para diferentes atividades de medição.

FICHA TÉCNICA

Para receber a fica ténica do aparelho preencha o formulário abaixo. Os campos marcados com * devem ser preenchidos para podermos processar sua solicitação.

Empresa *:
Nome *:
Sobrenome *:
Telefone *:
E-mail *:
Rua:
CEP:
Cidade:
Mensagem:
Eu concordo que meus dados preenchidos acima serão armazenados e processados para o recebimento de informaçães e novidades. Esta adesão pode ser cancelada a qualquer momento utilizando uma das formas de contato mencionado no Impressum.

SOLUÇÕES

ADAPTADAS

AO CLIENTE

Para realizar com sucesso sua atividade de medição uma oferta individualizada é a melhor opção.

Junto com você a twip optical solutions capta e analisa os requisitos e especificações para o melhor sistema de medição.

Com base na análise desenvolvemos um conceito para você. A aplicação é realizada com sua cooperação para criarmos uma solução inovadora que atenda suas expectativas.

ITOM

itom é um programa de medição e automação de sistemas óticos em código aberto. Suas principais características são:

A aplicação principal é programada em c++ e usa o Qt UI quadro. Suporta os sistemas operacionais recentes do Windows (7, 8.x e 10), Linux e OS X.

A linguagem Pyhton é completamente integrada para rodar e depurar scripts no tempo de execução. No nível do código outras bibliotecas conhecidas como OpenCV e PointCloud Library estão integradas e disponíveis.

Um sistema de plugins é utilizado para uma integração ácil de dispositivos habilitação de uma extensão simples. Este sistema também facilita a programação para programadores menos experientes.

Nossa equipe está profundamente envolvida no desenvolvimento do itom também utilizado em nossos sistemas e serviços oferecidos. Entre eles estão:

extensão do programa principal,
programação de plugins,
desenvolvimento de algoritmos
e treinamentos

GLOSSÁRIO

Abertura numérica

A abertura numérica (NA) é uma medida para o ângulo de abertura de uma ótica. Com o aumento da NA o ângulo de aceitação da ótica aumenta e melhora a resolução teórica, ao mesmo tempo em que a profundidade de campo diminui.

Alto Alcance Dinâmico (HDR)

As imagnes HDR sã obtidas através da combinação de várias imagens com tempo de iluminação diferente. Com esta técnica é possível medir objetos com uma alta variabilidade de reflexão.

Ampliação

A ampliação de um microscópio digital pode ser calculada através da ampliação nominal da lente, da distância focal da lente de tubo e da resolução da câmera. A ampliação útil é limitada pelo poder de resolução do microscópio e consequentemente, pela abertura numérica. Utilizando uma ampliação maior do que a ampliação útil, apenas a representação do objeto será aumentada como um zoom digital. Este caso é chamado de ampliação vazia, pois informações adicionais não podem ser transmitidas. O contrário normalmente resulta em uma perda de informação, com o uso de lentes microscópicas padrão um aumento da ampliação resulta em uma área de medição menor. Por isso é necessário sintonizar a resolução do sistema e da câmera. Ampliações na faixa de 20.000x são obtidas para relacionar a área de medição ao monitor do computador utilizado.

Artefato De Medição

Artefatos são erros de medição que resultam de um desempenho imprevisto no aparelho de medição causando uma falha no modelo de sinal do sistema. Nos sistemas óticos isso normalmente é causado pela natureza indireta da medição, ou seja, o resultado final deve ser calculado por um valor medido utilizando um tipo de processamento de sinal. Um artefato típico é o efeito 'moiré', que acontece quando estruturas periódicas são medidas e o sistema de medição não obedece o critério de Nyquist. Neste caso, o resultado da medição apresenta um batimento de baixa frequência superimposto ao resultado da medição, que depende da frequência nos pontos de medição da estrutura do objeto.

GLOSSÁRIO

Distância De Trabalho

A distância de trabalho define a distância entre a superfície da lente e o plano de objeto. A distância possui grande variabilidade e depende da abertura numérica. Em geral, lentes com uma abertura numérica maior tem uma distância de trabalho menor.

FWHM (Largura Total a Meia Intensidade)

A largura total a meia intensidade (em inglês, Full Width at Half Maximum) descreve a 'largura' do sinal confocal. Ela é influenciada pela abertura numérica efetiva do sistema ótico, pelo comprimento de onda de luz e pela qualidade do sistema ótico. Com o aumento da abertura numérica diminui a FWHM, melhorando a resolução do sistema. Quando objetos aclives ou muito ásperos são medidos, a abertura numérica efetiva é reduzida causando um aumento da FWHM e uma redução da resolução. Através da análise da FWHM e da imagem totalmente focalizada é possível cirar um mapa de qualidade da medição.

Imagem Totalmente Focalizada

Com um sistema confocal uma imagem totalmente focalizada é composta pelas imagens adquiridas durante o escaneamento do sistema. Essa imagem mostra a refletividade e a estrutura do objeto focalizado em todos os pontos ao contráio de imagens microscópicas normais.

Incerteza De Medição

Descreve um intervalo em torno do resultado medido, no qual está incluído o valor verdadeiro a ser mensurado. Na incerteza estão incluídos componentes estatísticos (ruído) e sistemáticos não corrigidos, por exemplo, um erro de calibração (veja também VIM 2012, no. 2.26).

GLOSSÁRIO

itom

É a abreviação do programa de medição do ITO que é um programa de medição e automação de sistemas óticos em código aberto desenvolvido no laboratório de ótica aplicada da Universidade de Stuttgart. Mais informações você encontra no tópio sobre os serviços.

Numero De Campo (F.N.)

Utilizando lentes padrão o número de campo dos microscópios é limitado. Normalmente uma série de lentes tem um número de campo comum (em inglês Field Number, F.N.). O F.N. é o tamanho máximo da imagem intermediária no plano da imagem utilizando uma lente de tubo 1x. Isto corresponde a área onde a lente é corrigida. Números de campo típicos estão entre 25 mm e 30 mm. A área real do campo é definida pela ampliação da lente em combinação com a distância focal da lente de tubo e o tamanho do sensor de imagem.

Princípio Confocal

O princípio confocal é baseado em um escaneamento mecânico com passos na faixa de micrometros. Durante o escaneamento um acervo de imagens é capturado em poucos segundos. Um disco giratório de microlentes é utilizado para conseguir a medição de uma área. Este conceito inovador viabiliza uma alta eficiência da luz, possibilitando a medição de objetos altamente absorventes ou com baixa refletividade.

Princípios De Medições Óticas

Diferentes princípios de medições óticas foram desenvolvidos para medir a superfície e a forma de objetos. Os mais comuns são: variação do foco (incluindo os sistemas confocais), (laser-) triangulação (incluindo projeção de estampas e franjas), tempo de voo (em inglês, 'Time Of Flight', TOF) e interferometria (incluindo interferometria de luz branca). Cada um destes princípios tem suas vantagens e desvantagens e por isso há certas aplicações. Por exemplo a interferometria de luz branca tem uma resolução ótima mas é sensível às vibrações. Ao contrário a microscopia confocal possui em geral uma resolução menor, mas também é menos sensível às vibrações.

GLOSSÁRIO

Repetibilidade De Medição

Descreve a qualidade de um sistema de medição observando as variações de um resultado de medição nas mesmas condições, com o mesmo operador, o mesmo equipamento e o mesmo objeto ou um comparável. Os desvios absolutos não são considerados (veja também VIM 2012, JCGM 200:2012, no 2.21).

Reprodutibilidade De Medição

Descreve o desvio do resultado de uma medição realizando medições repetidas em condições variadas e não controláveis. São consideradas as influências estatísticas e sistemáticas do sistema de medição e do operador (veja VIM 2012, JCGM 200:2012, no 2.25).

Resolução Axial

A resolução axial ou resolução de profundidade define a altura da menor estrutura que pode ser medida. De acordo com a diretiva VDI/VDE 2655 a resolução axial é calculada pelo desvio médio quadrático da superfície (Sq) na diferença entre duas medições. Em um microscópio confocal ela dependa da FWHM do sistema. Para uma FWHM menor a resolução melhora.

Resolução Lateral

Na resolução lateral deve-se diferenciar entre a resolução de pixels e a resolução ótica. Nos microscópios a resolução ótica normalmente é menos precisa do que a resolução de pixels.
A resolução ótica descreve a distância mínima entre duas estruturas no objeto que podem ser reconhecidas separadas por exemplo duas linhas pretas de uma estampa de linhas pretas e brancas. A resolução atingível é influenciada pelo comprimento da onda da luz, pela abertura numérica e pela qualidade da ótica utilizada. Ela pode ser determinada por meio de cálculo, de uma simulação ou pode ser medida. Para definir quando dois objetos podem ser reconhecidos separados, diferentes critérios são utilizados, como o critério de Rayleigh e o critério de Sparrow. Já que erros de imagem não corrigidos (aberrações) e tolerâncias de produção e montagem influenciam a resolução lateral real é recomendável determinar a resolução com o experimento utilizando, por exemplo, gráfico de teste USAF.

CONTATO

TWIP OPTICAL SOLUTIONS GmbH
GOTTLIEB-DAIMLER-STR. 19, 74385 PLEIDELSHEIM

numero telefonico +49 (0) 7144 / 8970 - 495
endereco email INFO@TWIP-OS.COM

Terms / Impressum

MICROSCÓPIO CONFOCAL

PARAFUSOS

INSERTOS DE CORTE

FICHA TÉCNICA

SOLUÇÕES

ADAPTADAS

AO CLIENTE

SERVIÇOS DE MEDIÇÃO

DESENVOLVIMENTO DOS
SISTEMAS DE MEDIÇÃO

ITOM